本發(fā)明涉及一種電子銅箔毛面銅粉的檢測裝置和方法。

背景技術(shù)：

目前銅箔毛面銅粉的檢測方法普遍采用砝碼拖拉的方法，該方法僅僅測試銅箔緯向或徑向一個方向，且用砝碼拖拉時，容易將銅箔毛面電鍍生成的瘤狀物破壞，不能真實的反應(yīng)整個銅箔毛面銅粉的狀況，

新型高精度電子銅箔在生產(chǎn)過程及分切機在切割過程中，銅箔毛面有銅粉附著，當(dāng)銅箔毛面銅粉大于50um或銅粉數(shù)量較多時，會導(dǎo)致銅箔在下游客戶后加工過程中電路被擊穿或短路，嚴(yán)重影響產(chǎn)品的質(zhì)量。

現(xiàn)有的技術(shù)方案為砝碼拖拉的方法，用250g砝碼沿銅箔徑向或者緯向拉2米。砝碼拖拉法主要的缺點是，僅僅在銅箔毛面的一個方向進(jìn)行檢測不能如實反應(yīng)銅箔毛面銅粉狀況，另外用250g的砝碼壓住后拖拉，容易破壞銅箔毛面電鍍生成的瘤狀物，造成對銅箔毛面銅粉的誤判。

技術(shù)實現(xiàn)要素：

本發(fā)明的第一個發(fā)明是提供一種電子銅箔毛面銅粉的檢測裝置，其包括：一個用于引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)輥、一個能夠?qū)膶?dǎo)輥經(jīng)過的銅箔的毛面施加壓力并與導(dǎo)輥鄰近設(shè)置的粘塵輥，所述粘塵輥表面包覆低粘度硅膠，以及一個不與引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)輥接觸但與粘塵輥接觸并對粘塵輥施加壓力的粘塵紙卷。

所述低粘度硅膠例如是粘度300-1000cs(厘斯托克，centistokes)，優(yōu)選400-700cs的室溫硫化硅膠。

粘塵紙卷可以使用普通市售的粘塵紙卷，例如PP、PE粘塵紙卷。

在一個具體實施方式中，粘塵輥能夠?qū)︺~箔毛面施加0.1-0.8MPa，優(yōu)選0.3-0.6MPa的壓力，更優(yōu)選0.4-0.5MPa。

在一個具體實施方式中，粘塵紙卷能夠?qū)φ硥m輥施加0.2-1.0MPa，優(yōu)選0.4-0.5MPa的壓力。

本發(fā)明的另一個方面是提供一種使用上述裝置檢測電子銅箔毛面銅粉的方法，該方法包括：

(A)利用與導(dǎo)輥鄰近設(shè)置的、表面包覆低粘度(例如粘度300-1000cs)硅膠的粘塵輥，對從導(dǎo)輥經(jīng)過的銅箔的毛面施加0.1-0.8MPa，優(yōu)選0.3-0.6MPa的壓力，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵輥上；

(B)利用與粘塵輥接觸的粘塵紙卷，對粘塵輥施加0.2-1.0MPa，優(yōu)選0.4-0.5Mpa的壓力，通過粘塵紙和粘塵輥粘度的不同，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵紙上；

(C)將粘塵紙從粘塵紙卷上取下，通過金相顯微鏡觀察粘塵紙上銅粉的狀況來反應(yīng)銅箔毛面銅粉的狀況。

本發(fā)明的優(yōu)點：

根據(jù)本發(fā)明，能夠避免銅箔毛面電鍍生成的瘤狀物破壞，能夠真實的反應(yīng)整個銅箔毛面銅粉的狀況。

附圖說明

圖1是本發(fā)明裝置的示意圖。

圖2是使用本發(fā)明裝置檢測電子銅箔毛面銅粉的方法中取樣的示意圖。

具體實施方式

以下通過具體實施方式來說明本發(fā)明。

如圖1所示，本發(fā)明的裝置包括一個用于引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)輥1、一個能夠?qū)膶?dǎo)輥經(jīng)過的銅箔2的毛面施加壓力并與導(dǎo)輥鄰近設(shè)置的粘塵輥3，所述粘塵輥表面包覆低粘度硅膠，以及一個不與引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)輥接觸但與粘塵輥接觸并對粘塵輥施加壓力的粘塵紙卷4。

所述低粘度硅膠例如是粘度300-1000cs(厘斯托克，centistokes)室溫硫化硅膠。

在一個具體實施方式中，粘塵輥能夠?qū)︺~箔毛面施加0.1-0.8MPa，優(yōu)選0.3-0.6MPa的壓力，更優(yōu)選0.4-0.5MPa。

在一個具體實施方式中，粘塵紙卷能夠?qū)φ硥m輥施加0.2-1.0MPa，優(yōu)選0.4-0.5MPa的壓力。

使用上述裝置檢測電子銅箔毛面銅粉的方法，該方法包括：

(A)利用與導(dǎo)輥鄰近設(shè)置的、表面包覆低粘度(例如粘度300-1000cs)硅膠的粘塵輥，對從導(dǎo)輥經(jīng)過的銅箔的毛面施加0.1-0.8MPa，優(yōu)選0.3-0.6MPa的壓力，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵輥上；

(B)利用與粘塵輥接觸的粘塵紙卷，對粘塵輥施加0.2-1.0MPa，優(yōu)選0.4-0.5Mpa的壓力，通過粘塵紙和粘塵輥粘度的不同，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵紙上；

(C)將粘塵紙從粘塵紙卷上取下，通過金相顯微鏡觀察粘塵紙上銅粉的狀況來反應(yīng)銅箔毛面銅粉的狀況。

在步驟(C)中，通過取樣，用金相顯微鏡觀察粘塵紙樣品上銅粉的狀況，如圖2所示，在剪下的一段粘塵紙樣品的兩側(cè)分別設(shè)定邊緣線，分別在粘塵紙兩側(cè)距離邊緣線1-11cm處取樣5cm×5cm和11cm-粘塵紙中間各取樣1張樣品用金相顯微鏡觀察銅粉大小和數(shù)量。

實施例1

將粘塵輥按照0.35MPa的壓力將其與銅箔毛面結(jié)合，并將粘塵紙以0.42Mpa的壓力將粘塵紙卷與粘塵輥結(jié)合，通過粘塵紙和粘塵輥粘度的不同，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵紙上，粘塵900米后，將粘塵紙從粘塵紙卷上取下，通過金相顯微鏡觀察粘塵紙上銅粉的狀況來反應(yīng)銅箔毛面銅粉的狀況。

取樣方法按照圖2所示的方法，分別在粘塵紙兩側(cè)距離邊緣線1-11cm處取樣5cm×5cm和11cm-粘塵紙中間各取樣1張樣品用金相顯微鏡觀察銅粉大小和數(shù)量。結(jié)果，能夠避免銅箔毛面電鍍生成的瘤狀物破壞，清楚、真實觀察到整個銅箔毛面銅粉的狀況。

實施例2

將粘塵輥按照0.55MPa的壓力將其與銅箔毛面結(jié)合，并將粘塵紙以0.49MPa的壓力將粘塵紙卷與粘塵輥結(jié)合，通過粘塵紙和粘塵輥粘度的不同，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵紙上，粘塵900米后，將粘塵紙從粘塵紙卷上取下，通過金相顯微鏡觀察粘塵紙上銅粉的狀況來反應(yīng)銅箔毛面銅粉的狀況。

粘塵紙觀察銅粉時，取樣方法按照圖2所示的方法，分別在粘塵紙兩側(cè)距離邊緣線1-11cm處取樣5cm×5cm和11cm-粘塵紙中間各取樣1張樣品用金相顯微鏡觀察銅粉大小和數(shù)量。結(jié)果，能夠避免銅箔毛面電鍍生成的瘤狀物破壞，清楚、真實觀察到整個銅箔毛面銅粉的狀況。

技術(shù)特征：

1.一種電子銅箔毛面銅粉的檢測裝置，其包括：一個用于引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)輥、一個能夠?qū)膶?dǎo)輥經(jīng)過的銅箔的毛面施加壓力并與導(dǎo)輥鄰近設(shè)置的粘塵輥，所述粘塵輥表面包覆低粘度硅膠，以及一個不與引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)輥接觸但與粘塵輥接觸并對粘塵輥施加壓力的粘塵紙卷。

2.根據(jù)權(quán)利要求1所述的檢測裝置，其中，所述低粘度硅膠是粘度300-1000cs室溫硫化硅膠。

3.根據(jù)權(quán)利要求1或2所述的檢測裝置，其中，粘塵輥能夠?qū)︺~箔毛面施加0.1-0.8MPa，優(yōu)選0.3-0.6MPa的壓力，更優(yōu)選0.4-0.5MPa。

4.根據(jù)權(quán)利要求1-3中任一項所述的檢測裝置，其中，粘塵紙卷能夠?qū)φ硥m輥施加0.2-1.0MPa，優(yōu)選0.4-0.5MPa的壓力。

5.一種使用上述裝置檢測電子銅箔毛面銅粉的方法，該方法包括：

(A)利用與導(dǎo)輥鄰近設(shè)置的、表面包覆低粘度(例如粘度300-1000cs)硅膠的粘塵輥，對從導(dǎo)輥經(jīng)過的銅箔的毛面施加0.1-0.8MPa，優(yōu)選0.3-0.6MPa的壓力，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵輥上；

(B)利用與粘塵輥接觸的粘塵紙卷，對粘塵輥施加0.2-1.0MPa，優(yōu)選0.4-0.5Mpa的壓力，通過粘塵紙和粘塵輥粘度的不同，將銅箔毛面銅粉轉(zhuǎn)移到粘塵紙上；

(C)將粘塵紙從粘塵紙卷上取下，通過金相顯微鏡觀察粘塵紙上銅粉的狀況來反應(yīng)銅箔毛面銅粉的狀況。

技術(shù)總結(jié)

一種電子銅箔毛面銅粉的檢測裝置，其包括：一個用于引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)輥、一個能夠?qū)膶?dǎo)輥經(jīng)過的銅箔的毛面施加壓力并與導(dǎo)輥鄰近設(shè)置的粘塵輥，所述粘塵輥表面包覆低粘度硅膠，以及一個不與引導(dǎo)銅箔的導(dǎo)管接觸但與粘塵輥接觸并對粘塵輥施加壓力的粘塵紙卷。根據(jù)本發(fā)明，能夠避免銅箔毛面電鍍生成的瘤狀物破壞，且能夠真實的反應(yīng)整個銅箔毛面銅粉的狀況。

技術(shù)研發(fā)人員：丁士啟;于君杰;鄭小偉;賈金濤;李大雙;汪光志

受保護(hù)的技術(shù)使用者：安徽銅冠銅箔有限公司;合肥銅冠國軒銅材有限公司

文檔號碼：201610425572

技術(shù)研發(fā)日：2016.06.14

技術(shù)公布日：2016.11.23